SK keyfoundry成功开发450V-2300V SiC平面MOSFET工艺平台,斩获1200V新品订单,正式开启SiC业务全面布局

科技IT 2026-03-11 user34782
  • 首页 > 芯闻 > SK keyfoundry成功开发450V-2300V SiC平面MOSFET工艺平台,斩获1200V新品订单,正式开启SiC业务全面布局

SK keyfoundry成功开发450V-2300V SiC平面MOSFET工艺平台,斩获1200V新品订单,正式开启SiC业务全面布局

关键词:SK keyfoundrySiCMOSFET

时间:2026-3-11 13:06:22      来源:互联网

韩国8英寸纯晶圆代工厂SK keyfoundry宣布,公司近期已完成SiC(碳化硅)平面MOSFET工艺平台的开发。当前,该平台在新一代化合物功率半导体市场中正备受青睐。公司还透露,已获得一家新客户的1200V SiC MOSFET产品开发订单,这标志着其全面启动SiC化合物半导体代工业务。

  • 成功开发450V-2300V SiC平面MOSFET工艺平台,确保高可靠性与良率竞争力
  • 启动为新客户开发1200V SiC MOSFET,加速SiC化合物半导体代工业务进程

韩国8英寸纯晶圆代工厂SK keyfoundry宣布,公司近期已完成SiC(碳化硅)平面MOSFET工艺平台的开发。当前,该平台在新一代化合物功率半导体市场中正备受青睐。公司还透露,已获得一家新客户的1200V SiC MOSFET产品开发订单,这标志着其全面启动SiC化合物半导体代工业务。

SK keyfoundry推出的全新SiC平面MOSFET工艺平台支持450V至2300V的宽电压范围。该平台已在高压工作环境下获得了高可靠性与稳定性数据,证明了其卓越性能。此外,通过全面优化工艺流程并实现对核心制程的精准管控,公司已将产品良率提升至90%以上,同时提高了生产效率。SK keyfoundry还表示,公司提供差异化的"定制化工艺支持服务",能够根据客户的特定需求微调电气特性与规格参数。

随着该工艺平台开发的完成,SK keyfoundry已获得一家专注于SiC设计的客户的1200V高压产品订单,并启动了产品开发工作。该工艺将应用于客户的工业设备,在热效率管理方面发挥关键作用。完成样片评估和可靠性验证后,公司计划于2027年上半年启动全面量产。

此次SiC平面MOSFET工艺平台的开发,是SK keyfoundry收购SiC专业公司SK powertech后,整合双方核心能力的首个成果。技术研发完成后随即获得实际客户订单,也印证了该平台已跨越技术验证阶段,具备了可立即投入商业化的成熟度与竞争力。

SK keyfoundry首席执行官Derek D. Lee表示:"SiC平面MOSFET工艺平台的开发,标志着SK keyfoundry已在全球化合物半导体市场确立了独立的技术领导地位。依托我们兼具高良率与高可靠性的差异化工艺,我们将持续拓展高压功率半导体解决方案,以满足国内外客户的需求。"

上一篇:【IBM 与泛林就亚 1nm 尖端逻辑制程开发达成合作】

下一篇:【豪掷50亿美元!应用材料联手美光,研发下一代AI存储芯片】

猜你喜欢

  • 芯闻
  • 芯品
  • 方案
  • 文章
  • SK keyfoundry成功开发450V-2300V SiC平面MOSFET工艺平台,斩获1200V新品订单,正式开启SiC业务全面布局
  • AI:数实共生,BEYOND Expo 2026 年度主题官宣,展示亚洲AI全生态
  • 高德智感亮相德国IWA户外用品展 树立行业新标杆
  • ROHM全面启动新型SiC塑封型模块的网售!
  • Wolfspeed 推出业界首款可商用 10kV SiC 功率 MOSFET,为 AI 数据中心电网提供关键支撑
  • ROHM发布搭载新型SiC模块的三相逆变器参考设计!
  • 力芯微电子​推出可调启动时间的5V10A负载开关ET3164
  • αMOS E2 600V 超结MOSFET平台:满足新一代电源管理与高效能应用的需求
  • 大联大友尚集团推出基于ST产品的11KW AC/DC高压电源和3KW DC/DC高压转低压系统方案
  • 大联大世平集团推出以晶丰明源和杰华特产品为主的便携式储能BMS应用方案
  • 太阳能、风能和储能系统:趋势与解决方案
  • 安森美(onsemi)高功率硅基和碳化硅(SiC)分立器件,助力优化住宅太阳能系统
  • 为800V应用选择合适的半导体技术
  • “中国智造出海”与“物理AI落地”两大核心主题将继续解锁全新产业机遇
  • 效率、成本、可靠性三重突破:安森美SiC方案赋能储能系统升级
  • IGBT基础知识:器件结构、损耗计算、并联设计、可靠性
来源:中电网
The End
免责声明:本文内容来源于第三方或整理自互联网,本站仅提供展示,不拥有所有权,不代表本站观点立场,也不构成任何其他建议,对本文以及其中全部或者部分内容、文字的真实性、完整性、及时性不作任何保证或承诺,请读者仅作参考,并请自行核实相关内容,不承担相关法律责任。如发现本站文章、图片等内容有涉及版权/违法违规或其他不适合的内容, 请及时联系我们进行处理。

Copyright © 2099 搜索科技

苏ICP备2023036119号-10 |——:

|—— TXT地图 | 网站地图 |